外觀設(shè)計(jì)專利12項(xiàng)
來(lái)源:
2024-04-24
專利名稱 | 申請(qǐng)?zhí)?/td> |
電磁扼探頭 | 2016306574353 |
觀片燈 | 201830697073X |
X射線探傷機(jī) | 2017302839523 |
一體式磁粉探頭 | 202030587246X |
四腳磁粉探頭 | 2020305866736 |
一體磁軛探傷儀(充電式) | 2021307110427 |
插電式磁粉探傷儀 | 2022301933548 |
表面無(wú)損探傷檢測(cè)爬行器 | 2022304907070 |
工業(yè)觀片燈 | 2022305478123 |
黑白密度計(jì) | 2022305477633 |
無(wú)線交直流磁軛探傷儀 | 2022306273794 |
無(wú)線旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)探傷儀 | 2022306275728 |